以上为聚亮光学新品推出 偏光显微熔点仪 X-4P 可外接CCD进行拍照分析详细参数信息,聚亮光学新品推出 偏光显微熔点仪 X-4P 可外接CCD进行拍照分析图片由上海聚亮光学仪器有限公司提供,聚亮光学新品推出 偏光显微熔点仪 X-4P 可外接CCD进行拍照分析
- 产品特性
产品简介
加工定制 | 是 |
品牌 | 测维 |
型号 | X-4P |
类型 | 显微熔点仪 |
熔点测量范围 | 20~320 |
测量重复性 | ±1℃ |
电源 | 220 |
专利产品 | 载波片和毛细管 |
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产品简介
加工定制 | 是 |
品牌 | 测维 |
型号 | X-4P |
类型 | 显微熔点仪 |
熔点测量范围 | 20~320 |
测量重复性 | ±1℃ |
电源 | 220 |
专利产品 | 载波片和毛细管 |