以上为【专利产品】非接触三坐标测量仪 微高度测量仪 金线精度测量仪详细参数信息,【专利产品】非接触三坐标测量仪 微高度测量仪 金线精度测量仪图片由上海聚亮光学仪器有限公司提供,【专利产品】非接触三坐标测量仪 微高度测量仪 金线精度测量仪
- 产品特性
产品简介
加工定制 | 是 |
品牌 | WDK |
型号 | WDK-2010Z |
类型 | 水平臂式三坐标测量机 |
定位精度 | 0.001 |
外形尺寸 | 500X800X1200 |
适用范围 | 金线弧高和平行度测量,电子,教育,材料等 |
测量方式 | 非接触测量 |
专利 | 拥有二项专利 |
仪器特性 | 集金相、三坐标测量、微分干涉于一身 |
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