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EX-6600 SDD型X射线荧光光谱仪

EX-6600 SDD型X射线荧光光谱仪

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  • 产品特性
EX-6600 SDD型X射线荧光光谱仪
产地:美国
主要特点:
1) EX-6600 SDD 为您提供了最{dj0}的灵敏度和选择度。
2) SDD 探测器具有电子噪音低和高计数率的特点,与Si-PIN 探测器相比,SDD 探测器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析结果。
3) 8 个二次靶为快速精确的定量分析提供了{zd0}程度的灵敏度,甚至是像合金、塑料、地质这样复杂的基质中。完全自定义的二次靶使得检测结果能达到sub-ppm 级别。
4) EX-6600 SDD 能够分析液体、固体、泥浆、粉末、片状物体等。并且分析样品室能够满足不用形状和尺寸样品的需要。
5) 10个位置的自动进样器整体设计允许了{zd1}限度的操作员干预、自动加载以及无人照管操作。
6) 该仪器检测快速,精准,使用方便。它具有坚固的计算机硬件和强大的分析软件能检测限低。
7) 多通道采集分辨率为改良过的探测器提供优质的峰与峰的比率。
指标参数:
测量能力  
测量范围 C(6)-Fm(100)
元素含量分析范围 ppm - {bfb}(在指定应用领域中)
X光管  
X光源 Rh – 阳级标准
X-射线电压 60kV, 300W
激发模式 二次靶激发模式
稳定性 室温条件下精确到0.1%
X光探测器  
探测器 硅锂探测器(SDD),避免使用液态氮
分辨率 136 eV ± 5eV at 5.9 keV.
窗口 Be
特性  
自动成样 10个位置
工作条件 空气/真空/氦气
滤光片 8款可选的软件
二次靶 8款可选,Ge,Zr,Si,Ti,Fe,Mo,Sn,Gd.
电源 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz
脉冲加工 多信道分析
光学 专利 WaG ® (广角几何)
尺寸(L×W×H,cm) 85×85×105(不含包装),145×95×135(含包装)
重量 170Kg(净重),200Kg(总重)
样品室尺寸 直径28cm,高5cm
电脑 集成 pc
软件  
操作软件 nEXt,运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法
控制 样品激发,探测,样品操控,数据采集及处理的自动控制
光谱处理 逃逸峰及背底的自动去除,自动重叠峰解析,图解式统计报告
定量分析算法 考虑共存元素效应的多元素回归法(六种模式)。总计数,净计数拟合及数字滤波器法。
报告 用户可自定的数据报表及打印形式

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